纳米颗粒跟踪分析仪和颗粒跟踪分析仪之间的差异

　　纳米颗粒跟踪分析仪是一种基于纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术的物理性能测试仪器，通过追踪纳米颗粒的布朗运动和光散射特性，实现粒径、浓度及Zeta电位等多参数测量。

　　该仪器核心光学系统包含激光散射视频显微镜和高灵敏度CMOS传感器，支持10-2000nm粒径检测范围，并具备荧光检测功能。其工作原理是通过激光束照射纳米颗粒悬浮液，利用显微镜捕捉颗粒散射光形成的移动光点，相机以每秒约30帧的速度记录颗粒布朗运动轨迹，专用软件通过斯托克斯-爱因斯坦方程推算粒径分布，精度可达4nm，同时提供颗粒浓度（10⁷-10⁹个/mL精度）和Zeta电位（±200mV范围）测量。

　　纳米颗粒跟踪分析仪和颗粒跟踪分析仪均基于颗粒布朗运动原理实现粒度分析，但二者在测量范围、技术细节等方面存在显著差异，核心区别在于对“纳米级”颗粒的特异性检测能力。以下从多个维度详细对比：

　　一、测量粒径范围的核心差异

　　颗粒跟踪分析仪（PTA）：

　　主要针对微米级及以上颗粒（通常测量范围为0.5μm-100μm），适用于较大颗粒的跟踪和分析。其光学系统（如普通光学显微镜）的分辨率有限，难以捕捉纳米级颗粒的布朗运动轨迹。

　　纳米颗粒跟踪分析仪（NTA）：

　　专门针对纳米级颗粒（典型测量范围为10nm-1μm），通过优化光学设计（如采用激光光源、高灵敏度相机）和算法，可识别并跟踪纳米颗粒的快速布朗运动（纳米颗粒因尺寸小，布朗运动更剧烈）。

　　二、技术原理的细节差异

　　两者均基于斯托克斯-爱因斯坦方程（通过颗粒扩散系数计算粒径），但实现方式不同：

　　光学系统：

　　PTA：多采用普通白光光源和常规显微镜，相机帧率较低（通常＜30fps），适用于运动速度较慢的大颗粒。

　　NTA：采用激光光源（如488nm蓝色激光）聚焦于样品池，使纳米颗粒产生散射光；搭配高帧率CCD/CMOS相机（通常＞30fps，甚至达100fps以上），可捕捉纳米颗粒的快速位移。

　　跟踪算法：

　　PTA：算法相对简单，主要通过颗粒的位移距离和时间计算扩散系数，对颗粒浓度要求较低（避免颗粒重叠）。

　　NTA：需处理纳米颗粒的高动态运动，算法更复杂（如采用粒子追踪velocimetry技术），同时可通过散射光强度估算颗粒浓度（需校准），但对样品浓度敏感（过浓会导致颗粒轨迹重叠，影响分析）。

　　三、核心区别总结

　　粒径敏感性：NTA专为纳米级（10nm-1μm）设计，PTA聚焦微米级（0.5μm以上）。

　　光学与算法：NTA依赖激光+高帧率相机+复杂跟踪算法，PTA采用常规光学系统和简单算法。

　　功能扩展：NTA通常可同时提供粒径分布和颗粒浓度数据，PTA更侧重粒径分析，浓度测量精度较低。