SuperQ软件中不同基体校正方法的选择依据是什么？

本文中将介绍在开发XRF分析方法做回归计算时，该如何选择不同的基体校正方法。此外，还将提供元素之间的干扰线列表，讲解是否所有的元素都需要扣背景，其把握的原则又是什么？

在马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪SuperQ软件中有四种基体校正方式，分别是：

• 经验系数法

• 基本参数法

• 理论α系数法

• 内标法

经验系数法通常用于粉末压片，标样的数量要足够多。

基本参数法通常用于均质样品，例如金属（生铁、铸铁除外），玻璃熔片，要求分析所有的元素，总和应接近100%，可设置手动输入项，如有烧矢量还要考虑烧矢量的影响（手动输入或者平衡），基本参数法的优点是可以校正很宽的浓度范围。

理论α系数法也通常用于均质样品，例如金属（生铁、铸铁除外），玻璃熔融片，同样要求分析所有的元素，总和应接近100%，可设置手动输入项及消去项，如有烧矢量还需要考虑烧矢量的影响（手动输入或者平衡），它与基本参数发的区别在于校正的浓度范围有限，当元素浓度超出曲线的上下限，外推得到的含量误差相对较大。

内标法是校正基体元素对分析元素的吸收效应，对于过渡元素，内标元素通常选择Z±1的元素。

判断一个元素是否存在干扰，可以到检查角度窗口，选择谱线重叠标签进行判断，下表是常见元素的干扰谱线，供您参考。