XRF半定量分析过程中如何判断元素是否真的存在？

在XRF技术云答疑时，我们的应用专家常常被问道：在“半定量分析"或是“无标定量分析"过程中，如何判断一个元素是否真实存在？面对这个问题，我们通常需要综合以下几个方面的信息来论证：

每种元素都有特定的特征X射线荧光波长或能量。通过对比样品光谱中出现的谱峰与已知元素的特征谱线数据库，若某个谱峰的波长/能量与特定元素的特征谱线高度吻合，可初步判断该元素存在。例如，铁（Fe）的Kα谱线波长约为1.936 Å，若在样品光谱中发现对应波长的强谱峰，可能表明铁元素存在。

单一谱线可能存在干扰或误判，因此需结合该元素的多条特征谱线进行验证。例如，钼（Mo）元素的K系谱线有Kα1、Kα2、Kβ等，其强度比是固定的（如Kα1:Kα2:Kβ = 100:50:14）。若在光谱中不仅发现Kα谱线，其他谱线的强度和位置也符合该元素的特征，可进一步确认元素的存在。

元素的特征谱线强度比是其固有属性。若检测到的谱线强度比与理论值或标准样品的强度比相符，可增强元素存在的可信度。例如，铜（Cu）的Kα和Kβ谱线强度比约为5:1，若实际测量的强度比接近该值，可作为元素存在的证据。

下图列出Na到U的元素列表，附带元素K系、Lα1系发射线的强度，供查阅参考。